Einzelne Pixelzeile eines Mikrodisplays. Ein Displaypixel ist 11 μm groß.
MICRODISPLAY
Sehr kleine Displays werden oft als Mikodisplays bezeichnet. Sie dienen beispielsweise als Bildquelle in AR/VR/XR-Anwendungen und zeichnen sich durch eine sehr hohe Pixeldichte/PPI (pixel per inch) aus, da sie in der Regel durch eine optische Abbildung vergrößert werden. Es gibt bereits Modelle mit einer PPI von mehreren Tausend. Da Mikrodisplays sowohl auf der LCD als auch auf der µLED- oder OLED-Technologie basieren, sind viele Messanwendungen relevant. Dazu gehören Gleichförmigkeits- und DeMURA-, (d.h. die Zuordnung von Leuchtdichte und/oder Farbe zu bestimmten Pixeln) sowie Auflösungsmessungen - zur Überprüfung des Auflösungsvermögens bzw. des optischen und elektrischen Übersprechens zwischen den Subpixeln. Aber auch Effekte wie Image Sticking oder konoskopische Leuchtdichte, Kontrast und Farbe können relevante Messgrößen sein. Während die Auswertungen und Methoden in Bezug auf die Software identisch mit denen von Standard-Displays sind, sind die Abbildungsbedingungen außergewöhnlich.
Unsere Lösung
TechnoTeam bietet eine breite Palette von makroskopischen und mikroskopischen Objektiven an, die die Abbildungseigenschaften zur Vermessung dieses anspruchsvollen Display-Typs erfüllen. Unsere Spezialobjektive decken eine optische Vergrößerung von 0,5 bis 50 ab, was in Kombination mit unserem LMK6 einer Auflösung von 7,5 Mikrometer/Kamerapixel bis theoretisch 0,075 Mikrometer/Kamerapixel entspricht. Sind erstmal Leuchtdichtebilder in entsprechender Qualität vorhanden, können die gleichen Algorithmen wie bei Standard-Displays zur Auswertung verwendet werden.
RELEVANTE PRODUKTE
RELEVANTE PUBLIKATIONEN
Invited Paper: Reproducible Characterization of Microdisplays using Imaging Luminance Measurement Devices (ILMDs)
International Conference on Display Technology (ICDT 2024)
In this contribution, we present typical practical implications of high magnification lenses required for camera-based microdisplay measurements and analyze their impact on existing measurement methods for DeMURA, resolution and contrast. Furthermore, we show hardware and software-based methods to improve or handle the shortcomings of these high-magnification lenses.
Reproducibility Evaluations and Calibration Sensitivity of Slanted Line Display MTF Measurements in Oversampling Conditions
International Display Workshop (IDW 2023)
In this contribution we research calibration related impacts on
MTF measurements using the Slanted Line approach in
oversampling conditions. Based on this we propose a
simplified workflow of the Slanted Line MTF method and
conclude benefits and limitations of these setup conditions
MTF measurements using the Slanted Line approach in
oversampling conditions. Based on this we propose a
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Invited Paper: Fast and Robust High Precision Luminance Image Stitching in Uniformity and DeMURA measurements
International Conference on Display Technology (ICDT 2023)
This paper provides an overview of image stitching and its general advantages and challenges. Further, we introduce a novel stitching concept based on our advanced pixel registration (APR) procedure. It allows easy and comparable flexible stitching setups for DeMURA and uniformity measurements in laboratory and production environments.